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晶片检测设备
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一种自动晶片检测方法,首先提供第一组数据与第二组数据.接着,提供一自动程序,是提供一视介面,使用者只需修改其中简单的几个指令,即可方便检测各种不同的元件特性.执行此自动程序,载入第一组数据,并进行下列选择步骤:选择一检测模件,其以电性连接与控制晶片上的多个测试键;再选择欲检测的元件特性,此时自动程序载入第二组数据.最后,自动程序将上述选择结果载入一工作站,然后进行并完成元件特性的检测动作.

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2021-08-03
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