基于C8051F020V2主控芯片的X射线探伤仪控制箱解决方案
原标题:X射线探伤仪控制箱
应用领域:工业电子
方案类型:成品
主控芯片:其他;
方案概述
1.主要功能:采用C8051F020微控制器,配合IGBT,实现1.5KW可控驱动源,用于驱动高频XI射线探伤机机头。
2.主芯片C8051F020V2的主要特性;
① 高速、流水线结构的8051 兼容的CIP-51 内核(可达25MIPS)
② 全速、非侵入式的在系统调试接口(片内)
③ 真正12 位(C8051F020/1)或10 位(C8051F022/3)、100 ksps 的8 通道ADC,带PGA和模拟多路开关
④ 真正8 位500 ksps 的ADC,带PGA 和8 通道模拟多路开关
⑤ 两个12 位DAC,具有可编程数据更新方式
⑥ 64K 字节可在系统编程的FLASH 存储器
⑦ 4352(4096+256)字节的片内RAM
⑧ 可寻址64K 字节地址空间的外部数据存储器接口
⑨ 硬件实现的SPI、SMBus/ I2C 和两个UART 串行接口
⑩ 5 个通用的16 位定时器
⑪ 具有5 个捕捉/比较模块的可编程计数器/定时器阵列
⑫ 片内看门狗定时器、VDD 监视器和温度传感器
⑬ 具有片内VDD 监视器、看门狗定时器和时钟振荡器的C8051F020/1/2/3 是真正能独立工作的片上系统。
【C8051F020】
C8051F020/1/2/3 器件是完全集成的混合信号系统级MCU芯片, 具有64 个数字I/O 引脚 (C8051F020/2)或32个数字I/O 引脚(C8051F021/3)。
C8051F020/1/2/3单片机所有模拟和数字外设均可由用户固件使能/禁止和配置。FLASH 存储器还具有在系统重新编程能力,可用于非易失性数据存储,并允许现场更新8051 固件。片内JTAG 调试电路允许使用安装在最终应用系统上的产品MCU 进行非侵入式(不占用
片内资源)、全速、在系统调试。该调试系统支持观察和修改存储器和寄存器,支持断点、观察点、单步及运行和停机命令。在使用JTAG 调试时,所有的模拟和数字外设都可全功能运行。
图为元件管脚分布图
图为元件内部结构图
责任编辑:David
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