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本发明涉及一种通过半导体分立器件特性曲线跟踪仪器.半导体分立器件特性曲线跟踪装置,由上位机,测试主机,扩展台,治具四部分组成,所述测试主机里包含下位机,机械手/探针台驱动模块,总线转换模块,数据总线模块,AD/DA转换模块,功率放大器,继电器阵列,所述的下位机里装有自检,自校准程序,所述的扩展台扩展所述功率放大器,采用16位并行AD/DA转换模块设计,测试速度快,精度高;采用下位机控制,实现脱机运行;采用多级开尔文技术,系统稳定性高,测试结果准确;完整的自检/自校准能力;采用上位机显示,直观,好操作;可以连接机械手或探针台,效率高;数据存储在PC机里,读写方便.