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自动测试设备
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ATE是Automatic Test Equipment的缩写，根据客户的测试要求、图纸及参考方案，采用MCU、PLC、PC基于VB、VC开发平台，利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技术开发、设计各类自动化测试设备。

寻找自动测试设备中PhotoMOS开关的替代方案
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在自动测试设备（ATE, Automatic Test Equipment）中，PhotoMOS开关（光隔离MOS开关）常用于实现电气隔离和开关功能，尤其在高压、电流较大、并且需要高频控制的环境中。PhotoMOS开关通常由光电二极管和MOSFET集成而成，具有较高的开关速度和耐压能力，但它的使用也受到一些局限，比如较低的开关频率、热稳定......
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2025-02-27
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