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测试测量也推“Turn-Key”模式?整体方案才是王道?

来源: 电路城
2020-12-31
类别:消费电子
eye 50
文章创建人 拍明

原标题:测试测量也推“Turn-Key”模式?整体方案才是王道?

  面向未来的模块化体系结构如何设计?

  早在30多年前,是德就开始开发VXI架构的模块化产品,但当时主要针对军工航天等高端领域。随着测试领域对更多高密度模块化产品的需求加大,是德便开始强化在模块化产品的投入力度。

  Mario Narduzzi表示,是德科技模块化产品采用PXI和AXIe架构,致力于提供且出众的仪器功能。可以满足工程师提升测试速度的需求,包括仪器模块之间的数据传输与同步以及测量速度。开放式体系结构结合的PCI技术,能够显著提升测试系统配置的灵活性和数据传输速率。此外,PXI和AXIe模块化仪器采用与台式设备完全一致的测量技术,具有的无线、射频、微波和高速数字性能。

  近年来,是德不断丰富模块化产品系列,在网络分析仪、数字化仪、信号分析仪、信号发生器、数字万用表和任意波形发生器等产品领域实现了突破,可以满足众多测试需求。

  近期,是德更是一口气推出了多款模块化产品。例如,PXIe多端口矢量网络分析仪M9485A VNA,是专为手机和基站中使用的无线元器件大批量制造而设计的,面向前端模块、开关和滤波器等。它的多端口体系结构提供一流的测量速度,比同类产品快30%,提高工作效率和测量吞吐量的同时地减少了占用空间,加快了测试速度。

  为了简化部署超高通道密度数据采集系统的复杂程度,是德还推出了8位高速数字化仪M9709A,可在单一模块中提供多达32个1GS/s同步采样通道。它适用于先进物理试验的多通道应用,例如流体力学、等离子体聚变(Tokamak/Stellarator)、粒子物理,以及微波天文学。

  同时推出的VXT PXIe矢量收发信机是一款基于PXIe的高度集成的模块化仪器,可同时提供矢量信号生成以及分析功能,占用4个PXIe插槽。它内置FPGA,系统开发人员通过直接使用VXT的测试软件和FPGA加速测量功能,能够轻松地构建功率放大器(PA)和前端模块(FEM)测试解决方案。

  为了应对通信测试领域100Gb/s和400Gb/s以太网和相干应用中的挑战,是德开发出了一款92GSa/s、32GHz带宽的模块化仪器M8196A,作为对现有波形发生器家族的补充。M8196A允许工程师以8位垂直分辨率生成数字多电平(例如PAM4、PAM-8、DMT)信号场景,并利用速率高达64GBaud的复合调制信号来测试电和光链路。

  Mario Narduzzi表示,是德在面向未来的模块化产品方面主要有四大设计理念:首先是小尺寸,即能够在紧凑的空间内支持多通道需求,并且不会像台式仪器一样增加重复的显示器和前面板;第二是高吞吐速率,能够利用高速背板进行直接数据传输;第三是灵活性和可扩展性,支持从单一模块到多个模块的组合定制解决方案,能够轻松集成到测试执行程序中;第四是重视创新技术的研发,是德始终注重为前沿的技术开发,并在测试系统中添加的应用模块。此外,是德还提供多种模块化应用软件、实用程序和配套工具,设计工程师可以借助软件设计并仿真、测量和分析测试系统,也可以使用仪器驱动程序创建专门的测试执行程序和测量。



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