泰克S530参数测试系统问市,助力半导体制造商开拓新兴市场


原标题:泰克S530参数测试系统问市,助力半导体制造商开拓新兴市场
泰克S530参数测试系统凭借其高灵活性、高电压测试能力、集成化功能以及兼容性优势,为半导体制造商提供了高效、精准的测试解决方案,助力其快速响应新兴市场对宽禁带半导体和功率器件的测试需求,从而加速产品上市并降低成本。以下为具体分析:
一、技术特点
高速灵活配置
模块化设计:S530系列参数测试系统支持高达200V测试(S530标准版)及1100V高压测试(S530-HV),满足不同电压等级的测试需求。其硬件架构支持快速适应新应用,通过KTE 7软件实现测试流程的灵活调整。
测试效率提升:与竞争方案相比,S530-HV的吞吐量提升超50%,显著缩短测试周期,降低单位测试成本。
高电压与低电流测试能力
高压测试突破:S530-HV支持任意引脚1100V高压测试,适配GaN、SiC等宽禁带半导体器件的击穿与漏流测试需求。
亚皮安级分辨率:低电流系统通过超低漏流开关矩阵与灵敏测量技术,实现亚微米MOS硅工艺特征分析所需的极高测量精度。
集成化功能扩展
并行测试支持:KTE V7.1软件新增并行测试功能,通过多达8个高分辨率SMU的协同工作,优化系统资源效率,进一步提升测试吞吐量。
高压电容测试:HVCV专用选项支持200-1100V电压下的电容测量,满足功率器件输入/输出瞬态性能表征需求。
二、对半导体制造商的价值
降低测试成本
资本投入优化:S530系列通过单系统覆盖多产品组合测试,减少设备采购与维护成本。例如,支持汽车电子器件的IATF-16949标准测试,避免多设备投资。
测试时间压缩:KTE软件升级将测试时间缩短超10%,结合自动化校准流程(如5880-SRU系统基准单元),进一步降低停机时间与人力成本。
加速产品上市
新兴技术适配:针对5G通信、汽车电子、物联网等领域的宽禁带半导体需求,S530提供实验室级测量性能,助力制造商快速完成从研发到量产的验证环节。
灵活应对需求变化:系统支持快速扩展至高增长的功率器件领域(如汽车市场),通过最少投资实现技术迭代。
提升测试质量
数据关联与校准:基于KTE 7的平台提供完整数据关联,确保测试结果可追溯性;符合ISO-17025标准的引脚校准与IATF-16949合规性,满足汽车电子等高可靠性场景需求。
过压/过流保护:内置瞬态保护机制降低测试过程中器件损坏风险,保障生产良率。
三、市场竞争力
技术领先性
宽禁带半导体测试优势:S530-HV的高压测试能力与HVCV选项,使其在GaN、SiC器件测试领域具备显著优势,满足新兴市场对高频、高效功率器件的严苛要求。
自动化与智能化:KTE软件生态的持续升级(如并行测试、自动化校准)推动测试流程向智能化转型,提升制造商的数字化竞争力。
生态系统支持
兼容性与扩展性:S530支持原有吉时利与Keysight装置的探测器接口,保护用户前期投资;通过SECS/GEM协议实现与300mm晶圆厂的无缝集成,降低部署门槛。
服务网络:泰克全球服务机构提供校准、技术支持与人员培训,确保系统长期稳定运行。
责任编辑:David
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