压敏电阻的失效机理涉及多个方面，主要包括以下几种：

一、热失效机理

热失效是压敏电阻失效的一种常见形式。当压敏电阻长时间处于异常电压或高电流状态下时，其内部会产生大量的热量。由于压敏电阻的升温速度通常比热耗散速度快得多，因此较长时间的异常电压或高电流将引起元件内部热量积累，导致温度不断升高。当元件温度超过其稳定极限温度时，其电性能会迅速下降，直至完全丧失原有性能。热失效通常与压敏电阻的材料特性、散热条件以及工作环境温度有关。

二、老化失效机理

老化失效是指压敏电阻在使用过程中，由于长时间的电场作用、温度变化、材料老化等因素，导致其性能逐渐下降的过程。老化失效通常表现为漏电流增大、压敏电压降低等。当老化程度严重时，压敏电阻可能无法再起到有效的保护作用，甚至可能引发电路故障。老化失效的机理与压敏电阻的材料成分、制造工艺以及工作环境等因素密切相关。

三、穿孔失效机理

穿孔失效是压敏电阻在受到高异常电压作用时，电阻体内部发生击穿而形成孔洞的现象。穿孔失效通常与元件中存在的超高温热点有关，这些热点可能是由于材料不均匀性、显微孔隙等因素导致的。当高异常电压作用于压敏电阻时，这些热点会成为电流密度异常分布的区域，导致局部温度升高并引发击穿。穿孔失效会导致压敏电阻的电阻值急剧下降，甚至形成短路，从而引发电路故障。

四、开路失效机理

开路失效是指压敏电阻在受到过大的浪涌电流冲击时，本体可能发生炸裂而导致开路状态的现象。这种失效模式通常发生在压敏电阻的浪涌电流承受能力超出其极限值时。开路失效虽然不会引起燃烧现象，但会导致电路中断，从而影响设备的正常工作。

五、其他失效机理

除了上述几种常见的失效机理外，压敏电阻还可能受到湿度、振动、冲击等环境因素的影响而失效。例如，过高的湿度可能导致压敏电阻内部的半导体材料受到腐蚀，从而改变其电阻值并引发失效。此外，振动和冲击等机械应力也可能导致压敏电阻内部结构损坏或松动，进而引发失效。

综上所述，压敏电阻的失效机理涉及多个方面，包括热失效、老化失效、穿孔失效、开路失效以及其他环境因素的影响。为了延长压敏电阻的使用寿命并确保电路的安全运行，需要在设计和使用过程中充分考虑这些因素，并采取相应的保护措施。