除了之前提到的使用万用表测试、示波器测试和简单触发电路测试等方法外，测试可控硅触发二极管的好坏还可以采用以下方法：

一、温度特性测试

1. 测试原理：
   可控硅在不同温度下的电气性能会有所变化。通过测试其在不同温度下的触发电压、导通电压等参数，可以判断其温度特性是否正常。

2. 测试步骤：

• 将可控硅置于不同温度环境下（如使用恒温箱或加热器等设备）。

• 在每个温度点下，使用万用表或示波器等设备测试可控硅的触发电压、导通电压等参数。

• 记录并比较不同温度下的测试数据，判断可控硅的温度特性是否稳定。

二、寿命测试

1. 测试原理：
   长时间工作下的可控硅可能会因老化、疲劳等原因导致性能下降。通过进行寿命测试，可以评估可控硅的长期稳定性和可靠性。

2. 测试步骤：

• 将可控硅置于额定工作条件下，进行长时间连续工作（如数小时、数天或更长时间）。

• 在测试过程中，定期检测可控硅的触发电压、导通电压等参数，并记录数据。

• 观察可控硅的外观，检查是否有损坏、裂纹或烧蚀现象。

• 根据测试数据和外观检查结果，评估可控硅的寿命和可靠性。

三、反向特性测试

1. 测试原理：
   反向特性是指可控硅在反向电压下的阻断能力。通过测试其在反向电压下的漏电流和阻断电压，可以判断其反向特性是否正常。

2. 测试步骤：

• 使用万用表或示波器等设备，将测试电压反向施加在可控硅的阳极和阴极之间。

• 观察并记录可控硅在反向电压下的漏电流和阻断电压值。

• 如果漏电流较小且阻断电压在可控硅的规格范围内，则表明其反向特性正常。

四、注意事项

1. 在进行任何测试之前，请确保已断开可控硅的电源，并遵循安全操作规程，以防止触电或短路等危险情况的发生。

2. 测试时要使用精度和准确性高的测试仪器和设备，以确保测试结果的可靠性。

3. 如果测试过程中发现可控硅存在异常或损坏情况，请立即停止测试并更换新的可控硅。

综上所述，通过温度特性测试、寿命测试、反向特性测试等方法，可以全面评估可控硅触发二极管的好坏和性能稳定性。在实际应用中，应根据具体需求和条件选择合适的测试方法。