原标题：毫米波AiP系统的快速测试解决方案

毫米波AiP（封装天线集成）系统的快速测试解决方案主要关注于如何高效、准确地评估这类系统的性能。以下是针对毫米波AiP系统快速测试解决方案的详细分析：

1. 测试方法

• OTA（Over-the-Air）测试：由于AiP系统是一个单一的紧凑型封装，包含多个射频通道且没有天线单元上的射频连接器，因此OTA测试是唯一可行的方法。OTA测试可以评估AiP的辐射图、各单元的相对增益和相位等关键参数。

2. 测试环境

• 远场测量：根据3GPP TR 38.810规范，远场测量技术需要一个最小测量距离，这通常需要一个较大的暗室。例如，一个天线尺寸为15厘米的28 GHz设备可能需要一个4.2米的暗室来实现远场测量。

• 紧凑型天线测试（CATR）：使用间接远场（IFF）方法，通过抛物线反射器将来自馈电喇叭的波平行化，以创造一个远场的测试环境。虽然缩小了暗室尺寸，但整个系统仍需要较大空间。

3. 快速测试解决方案的特点

• 设备兼容性强：系统应能快速兼容并拓展多种型号，适合批量生产、筛选认证以及研发测试场景。

• 环境测试能力：支持低温、常温、高温等多种环境测试，确保在各种工作条件下系统的稳定性。

• 模块化结构：系统应由多个模块化组件组成，如Handler、socket、loadboard和测试机等，方便根据需求进行定制和升级。

• 可靠性高：系统应具有低掉料率和低测试工位接触不良率，确保测试的准确性和重复性。

4. 软件平台

• 可视化界面：软件平台应具备直观、易用的显示及操作界面，使操作更加便捷，信息展示更加及时、全面。

• 自动化控制：自动化控制和测试模块上位机应采用嵌套平台化关系，实现多种测试类型的快速切换和多种制式数据的自动化存储。

5. 解决方案优势

• 系统兼容性强：能够融合空口技术，满足毫米波天线空口测试要求，实现对位置标定、收发功率、平坦度、波束赋形等关键参数的测试。

• 高效性：通过模块化设计和自动化控制，显著提高测试效率，减少测试时间和成本。

6. 相关设备和仪表

• 平移式分选测试设备（如ST5203）：适用于分选测试，支持多种工作模式和进料方式，兼容性强。

• 信号提取夹具（如AFX300）：用于射频信号提取，支持TRL校准，频率范围覆盖DC至50GHz。

• 高速切换单元：实现仪表通道的快速切换，降低测试时间。

• loadboard板：定制化的测试板，用于芯片测试电源控制、信号转接和电信号测量等。

通过上述快速测试解决方案，可以实现对毫米波AiP系统的高效、准确测试，确保系统的性能和稳定性满足设计要求。