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面对高速链路测试重重挑战,轻松实现PCIe 5自动多路测试

来源: 中电网
2021-11-18
类别:技术信息
eye 18
文章创建人 拍明

原标题:面对高速链路测试重重挑战,轻松实现PCIe 5自动多路测试

面对高速链路测试的挑战,特别是PCIe 5(即PCI Express第五代,数据传输速率可达32 GT/s)的自动多路测试,确实需要一系列精细的操作和配置。以下是一些关键步骤和考虑因素,以实现PCIe 5的自动多路测试:

一、测试挑战

  1. 多通路测试需求:PCI Express端口的通路宽度一般为x1、x4、x8和x16,需要对这些不同宽度的通路进行发射机(Tx)和接收机(Rx)的测量,这给全自动测试环境带来了挑战。

  2. 高速信号要求:PCIe 5的数据传输速率高达32 GT/s,对测试设备和测试方法提出了更高要求。

二、测试方法

1. 使用RF开关

  • 目的:通过在测试通道中包括RF开关,可以在不过度改变被测设备(DUT)和测试设备电缆的情况下实现多路测试。

  • 配置

    • 推荐使用Mini-Circuits的RF开关进行Gen5多路测试,这些开关型号如ZTM2-8SP6T-40和ZT-8SP6T-40 4U/5U等,可以支持最多18条通路(PCIe最高一般是x16),也支持较低的通路数。

    • 推荐使用相位匹配的电缆,在相邻的40 GHz继电器之间建立固定连接,以保持电气路径的一致性。

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2. 测试设备连接

  • 发射机(Tx)测试

    • 系统主机配置要求把一块一致性测试负载电路板(CLB)插入DUT的CEM连接器中。

    • 使用电缆从每条通路连接RF开关,然后将端接的开关矩阵连接到50 GHz示波器。

    • 任意波形发生器(AFG)可以自动生成要求的突发信号,令DUT循环通过不同发射机测量使用的各种数据速率和码型。

  • 接收机(Rx)测试

    • PCIe Gen5器件接收机使用精细校准的压力眼图信号进行测试。

    • 在TP3测试点校准幅度、Tx均衡、随机抖动和正弦曲线抖动时,需要直接连接BERT(如Anritsu MP1900A BERT PPG)和示波器。

    • 在TP2P使用差模干扰(DMI)、共模干扰(CMI)和最后的压力眼图校准串扰项。

3. 电缆和连接器选择

  • 电缆长度:建议在DUT和RF开关之间使用1米2.92mm电缆,在RF开关和示波器输入之间使用0.5米2.92mm电缆。

  • 匹配范围:通道中所有电缆、继电器和PCB匹配范围都应落在正负信号路径+/- 1ps范围内。

4. 损耗校正

  • 通道损耗:应执行测试夹具表征,包括RF开关。可以选择一个损耗较低的滤波器文件,以实现最坏情况插件损耗或系统损耗。

  • 反嵌技术:可以使用基于散射参数(S参数)的反嵌技术去掉RF开关插损的影响,但需要注意噪声放大的影响。

三、注意事项

  1. 避免串联多个继电器:由于插损问题,不建议串联两个以上的继电器进行32 GT/s Tx测试。

  2. 保持电气路径一致性:使用相位匹配的电缆,以确保通道到通道间只存在小的电气差异。

  3. 软件支持:利用TekExpress等软件执行自动通道到通道时延校正,提高测试效率。

四、总结

实现PCIe 5的自动多路测试需要精细的测试和配置过程,包括使用RF开关、选择合适的测试设备和电缆、执行损耗校正等。通过这些步骤,可以确保在不过度改变测试环境的情况下,全面表征高速链路的性能。

请注意,以上信息基于当前可用的技术和测试方法,并可能随着技术的发展而有所变化。在实际应用中,建议参考最新的测试标准和设备手册。


责任编辑:David

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