原标题：适用于工业应用的 NAND 闪存

史密斯英特康推出的创新且稳健的Kelvin弹簧探针技术，在半导体测试领域具有显著的优势和广泛的应用。以下是对该技术的详细解析：

一、技术概述

史密斯英特康作为全球领先的关键半导体测试应用创新解决方案的供应商，其最新推出的Kelvin弹簧探针技术，专为低至0.35毫米间距的Kelvin测试应用设计。该技术通过创新的凿尖设计和专有的均质合金优化，提供了稳健、易于维护、长寿命的测试解决方案。

二、技术特点

1. 独特的凿尖设计：

• Kelvin探针的独特凿尖设计能够在设备焊接点上实现更紧密的中心接触，最低可达0.125毫米（另一说法为0.25毫米），这大大提升了测试的准确性和可靠性。

• 这种设计特别适用于物联网、移动、互联网和汽车芯片等关键应用测试，为这些领域提供了可靠、稳定的接触电阻。

2. 高精度测量：

• Kelvin测试是一种通过高分辨率测量来确定电阻有限变化的方法。Kelvin探针通过与载流元件或测试选点的精密电接触，可消除或大大降低接触电阻的影响，从而实现更精确的测量。

• 这在处理用于大电流测试的低毫伏参考电压时尤为重要，确保了测试结果的准确性和可靠性。

3. 长寿命与耐用性：

• 为了增加探针的使用寿命，Kelvin探针采用了Smiths Interconnect专有的均质合金进行优化。这种合金不仅提高了探针的耐用性，还延长了其使用寿命，为量产测试提供了可靠的解决方案。

1. 广泛适用性：

• Kelvin探针头设计适用于标准阵列测试插座或晶圆级别探针头（如Volta WLCSP），为不同类型的测试需求提供了灵活的选择。

• 该技术涵盖了0.35毫米及以上的芯片器件引脚间距，满足了多种测试场景的需求。

2. 易于维护：

• Kelvin探针的设计考虑到了易用性和维护性，提供了稳健、易于维护的测试解决方案。这降低了维护成本和时间，提高了测试效率。

三、应用领域

Kelvin弹簧探针技术广泛应用于物联网、移动、互联网和汽车芯片等关键领域的测试。其独特的凿尖设计和高精度测量能力，为这些领域的测试提供了可靠、稳定的接触电阻和精准的测量性能。

四、总结

史密斯英特康推出的创新且稳健的Kelvin弹簧探针技术，凭借其独特的凿尖设计、高精度测量能力、长寿命与耐用性以及广泛适用性等特点，在半导体测试领域展现出了强大的竞争力和广泛的应用前景。该技术不仅提升了测试的准确性和可靠性，还为不同领域的测试需求提供了灵活、高效的解决方案。