原标题：Saki 创新的 3D-AOI Z 轴系统将在 NEPCON ASIA 2021 上隆重亮相

Saki 创新的 3D-AOI Z 轴系统在NEPCON ASIA 2021上隆重亮相，这一事件标志着Saki在自动化光学和X射线检测设备领域的又一重要进展。以下是对该事件的详细回顾和介绍：

一、事件背景

• 公司背景：Saki Corporation是自动化光学和X射线检查设备领域的创新型公司，自1994年成立以来，一直是机器人视觉自动识别技术研发方面的领导者。其产品线包括3D自动焊膏、光学和X射线检测和测量系统（SPI、AOI、AXI），这些系统被认为是可真正进行M2M通信的稳定平台，并具有最先进的数据采集机制。

• 展会介绍：NEPCON ASIA（亚洲电子生产设备暨微电子工业展览会）是一个全球知名的电子生产设备展览会，吸引了众多行业内的领先企业和专业人士参展。该展会为参展商提供了一个展示最新技术和产品的绝佳平台。

二、产品亮点

• 3D-AOI Z 轴系统：Saki在此次展会上着重展示了其创新的3D-AOI Z轴系统。该系统是为响应客户们日益增长的应用需求而开发的，特别适用于对夹具中的高元器件、压接元器件和PCBA进行精准的检测。

• 技术特点：

• 高度测量范围：在3D模式下，该系统实现了最大40毫米的高度测量范围，而在2D模式下的最大对焦高度也提高到了40mm。这一特性使得Saki的3Di-AOI系列解决方案能够先检测薄型元件，然后重新对焦到大型元件（如大型电解电容器）的型号和极性标志上。

• 高精度检测：合成的图像可实现准确的缺陷检测和光学字符识别（OCR或OCV），从而确保高质量。此外，该系统还内置了包括边沿搜索和平面检测在内的高级算法，以确保较高的检查精度和可重复性。

• 灵活应用：该系统能够应对下一代装配挑战，如检查压配合连接器的插针等日益广泛应用的部件。具有有限Z轴范围的常规AOI系统可能无法识别出诸如弯曲的销钉以及不正确的对齐或共面性之类的缺陷，而Saki的3Di系列Z轴增强功能则能有效解决这些问题。

三、展会效果与影响

• 市场反响：Saki的3D-AOI Z轴系统在NEPCON ASIA 2021上受到了广泛关注。这一创新产品的亮相不仅展示了Saki在自动化光学检查技术方面的领先地位，也为行业内的其他企业树立了标杆。

• 合作机会：展会期间，Saki与众多潜在客户和合作伙伴进行了深入交流，为未来的合作奠定了坚实基础。同时，Saki还借此机会向全球展示了其致力于解决电子制造中所面临挑战的决心和能力。

综上所述，Saki 创新的 3D-AOI Z 轴系统在NEPCON ASIA 2021上的亮相是一次成功的市场展示和技术交流活动。该系统的推出不仅提升了Saki在自动化光学检查领域的竞争力，也为整个行业的发展注入了新的活力。