亚德诺半导体ADRF5545A射频前端多芯片模块的介绍、特性、及应用


原标题:亚德诺半导体ADRF5545A射频前端多芯片模块的介绍、特性、及应用
以下是关于亚德诺半导体(Analog Devices,简称ADI)的ADRF5545A射频前端多芯片模块的详细介绍、特性及应用:
一、介绍
ADRF5545A是一款双通道集成式射频(RF)前端多芯片模块,专为工作频率为2.4GHz至4.2GHz的时分双工(TDD)应用而设计。该模块采用双通道配置,集成了级联两级低噪声放大器(LNA)和高功率硅单刀双掷(SPDT)开关,提供了高性能的射频前端解决方案。
二、特性
集成式双通道RF前端:
包含两个独立的射频通道,每个通道都具备完整的射频前端功能。
2级LNA和高功率SPDT开关:
两级低噪声放大器(LNA)提供高增益和低噪声系数,有助于改善接收机的灵敏度。
高功率硅单刀双掷(SPDT)开关提供低插入损耗和高隔离度,确保射频信号的准确传输和接收。
片上偏置和匹配:
无需外部偏置电路和匹配网络,简化了电路设计和制造流程。
单电源供电:
支持单电源供电,降低了电源管理的复杂性。
高增益和低噪声系数:
在高增益模式下,3.6GHz时的增益为32dB(典型值),噪声系数为1.45dB(典型值)。
在低增益模式下,3.6GHz时的增益为16dB(典型值),噪声系数仍为1.45dB(典型值)。
高隔离度和低插入损耗:
RXOUT-CHA和RXOUT-CHB之间的隔离度为47dB(典型值)。
TERM-CHA和TERM-CHB之间的隔离度为52dB(典型值)。
在发射过程中,当射频输入连接到端电极引脚(TERM-ChA或TERM-ChB)时,开关提供0.65dB的低插入损耗。
高功率处理能力:
在整个生命周期内,可以处理40dBm的长期演进(LTE)平均功率(9dB峰值/平均值比(PAR))。
在单一事件(<10秒)LNA保护模式下,可以处理43dBm的LTE平均功率(9dB PAR)。
高OIP3:
输出3阶交调截点(OIP3)为32dBm(典型值),有助于改善接收机的线性度。
低电源电流:
在高增益模式下,5V时的电源电流为86mA(典型值)。
在低增益模式下,5V时的电源电流为36mA(典型值)。
在关断模式下,5V时的电源电流为12mA(典型值)。
正逻辑控制和封装:
采用正逻辑控制,方便与数字电路集成。
采用符合RoHS标准的紧凑型6mm×6mm 40引脚LFCSP封装,有利于减小电路板空间。
三、应用
无线基础设施:
适用于TDD大规模多输入和多输出(MIMO)以及有源天线系统,有助于提高无线通信系统的容量和覆盖范围。
基于TDD的通信系统:
如4G LTE、5G NR等基于TDD的通信系统,ADRF5545A可作为高性能的射频前端解决方案。
其他应用:
还可用于各种需要高性能射频前端的应用场景,如雷达、卫星通信等。
综上所述,ADRF5545A射频前端多芯片模块具有高性能、高集成度、易于使用等优点,适用于各种需要高性能射频前端的应用场景。
责任编辑:David
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