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基于agilent93000系列SoC的数字芯片测试文件
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原标题：基于agilent93000系列SoC的数字芯片测试文件
由於本中心舊有之晶片量測系統IMS ATS200使用已達10年，故障頻繁，已無法對各界提供良好服務，為了提升國內學術界透過本中心下線之晶片量測環境，以及產業未來發展，中心於西元2004年引進『Agilent 93000 SOC Series』混合訊號自動測試設備，該機台特色為模組化設計，可針對不同類別的IC選購不同的模組，來達到在單一平台上就可以測試各式各樣的IC，包括了純數位IC、混合訊號IC與SOC系統單晶片。在引進此設備後，中心將建立展新的晶片測試環境，提供各界更良好晶片測試環境。本文將對中心引進的『混合訊號自動測試設備』功能以及如何使用此設備來進行數位晶片測試作一簡單介紹。
责任编辑：David
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