原标题：北京海尔与安捷伦科技联手将可测性设计(DFT)应用在MPEG-II译码芯片的工程与量产测试

北京海尔与安捷伦科技在MPEG-II译码芯片工程与量产测试中联手应用可测性设计（DFT）技术，标志着双方在芯片测试领域的技术整合与产业化落地迈出关键一步。这一合作通过DFT技术优化芯片的可测试性，结合安捷伦在测试设备与解决方案上的优势，以及海尔在芯片设计与量产经验上的积累，为提升芯片测试效率、降低成本并加速产品上市提供了有力支撑。以下从技术合作逻辑、DFT应用价值及行业影响三方面展开分析：

1. 技术合作逻辑：DFT为芯片测试“降本增效”

芯片测试是芯片制造中的关键环节，其核心目标是高效、精准地检测出制造缺陷，避免不良品流入市场。然而，随着芯片工艺的复杂化（如纳米级制程、多核架构等），传统测试方法面临两大挑战：

• 测试成本激增：测试时间与数据量呈指数级增长，ATE（自动测试设备）资源消耗巨大；

• 缺陷覆盖率不足：复杂芯片内部逻辑难以通过外部引脚完全观测，传统测试向量难以覆盖所有潜在故障。

DFT技术的引入通过在芯片设计阶段植入测试逻辑（如扫描链、BIST等），将芯片内部状态转化为可观测、可控制的信号，从而提升测试效率与缺陷覆盖率。

• 扫描链（Scan Chain）：将时序逻辑转换为可扫描的移位寄存器链，通过外部引脚输入测试向量，实现内部逻辑的全面覆盖；

• 内建自测试（BIST）：在芯片内部集成测试电路，降低对ATE设备的依赖，尤其适用于存储器等重复性模块的测试；

• 边界扫描（Boundary Scan）：通过JTAG接口实现芯片引脚级测试，提升板级测试效率。

北京海尔与安捷伦的合作，正是通过DFT技术解决上述痛点，在芯片设计阶段预埋测试接口，在量产阶段利用安捷伦的ATE设备与测试算法，实现高效、低成本的测试流程。

2. MPEG-II译码芯片的DFT应用场景

MPEG-II译码芯片作为数字视频处理的核心组件，其复杂度体现在高带宽数据流处理、多核并行计算、实时性要求等方面。此类芯片的测试难点包括：

• 视频解码逻辑的复杂性：需验证H.262标准下的熵解码、运动补偿、IDCT等模块的正确性；

• 实时性要求：需在有限时钟周期内完成数据处理，测试需覆盖时序敏感路径；

• 多核协同测试：需验证多核间的数据同步与通信机制。

DFT技术的具体应用：

• 针对复杂逻辑的扫描测试：通过插入扫描链，将解码模块中的时序逻辑转化为可扫描结构，利用ATE设备输入测试向量，验证解码流程的正确性；

• 针对存储器的BIST测试：MPEG-II芯片中的帧缓冲、参考帧存储器等模块，通过内建自测试电路检测存储单元的短路、断路等缺陷；

• 针对时序路径的ATPG测试：利用自动测试向量生成工具，针对关键时序路径生成测试向量，覆盖延迟故障（如Transition Fault）；

• 针对多核通信的边界扫描：通过JTAG接口测试多核间的数据总线、控制信号，确保协同工作的可靠性。

3. 行业影响：DFT技术推动芯片测试产业化升级

北京海尔与安捷伦的合作，不仅提升了MPEG-II译码芯片的测试效率，更为芯片行业提供了DFT技术产业化的标杆案例：

• 测试成本优化：通过DFT技术减少ATE设备的使用时间，降低测试成本；

• 良率提升：高缺陷覆盖率确保不良品在量产早期被剔除，提升整体良率；

• 上市周期缩短：DFT技术加速了测试向量生成与调试过程，缩短了芯片从工程验证到量产的时间；

• 技术生态构建：双方合作推动了DFT工具链（如扫描链插入、ATPG算法）与ATE设备的深度整合，为行业提供了可复用的解决方案。

此外，这一合作也反映了芯片设计与测试协同创新的趋势：

• 设计端与测试端的联动：DFT技术要求芯片设计师与测试工程师在早期阶段紧密协作，优化测试逻辑的插入位置与资源开销；

• 测试算法与硬件的协同优化：安捷伦的ATE设备与测试算法需与海尔的DFT架构匹配，确保测试向量的高效生成与执行；

• 产业链协同效应：双方的合作模式可推广至其他芯片领域（如AI加速卡、通信基带芯片），推动全行业的测试效率提升。

总结

北京海尔与安捷伦科技在MPEG-II译码芯片测试中应用DFT技术，是芯片设计与测试深度融合的典型案例。通过DFT技术优化芯片的可测试性，结合安捷伦在ATE设备与测试算法上的优势，双方实现了测试效率提升、成本降低与良率保障的三重目标。这一合作不仅为MPEG-II译码芯片的产业化提供了技术支撑，更为芯片行业探索DFT技术的规模化应用提供了宝贵经验。未来，随着芯片复杂度的持续提升，DFT技术将成为芯片测试领域的核心驱动力，而北京海尔与安捷伦的合作模式，或将引领行业进入“设计即测试”的新阶段。