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泰瑞达推出UltraFLEX测试机系列新成员—UltraFLEXplus

来源: eeworld
2019-09-04
类别:业界动态
eye 141
文章创建人 拍明

原标题:泰瑞达推出UltraFLEX测试机系列新成员—UltraFLEXplus

  ● 富有创新性的PACETM架构可以实现更高的工程生产力,更短的开发时间以及更低的制造成本。

  ● 兼容现有超过4000台装机量的UltraFLEX测试机与屡获殊荣的IG-XL软件。

  全球领先的自动化测试解决方案供应商泰瑞达(NASDAQ:TER)在美国马萨诸塞州北芮丁市推出了UltraFLEX测试机系列的最新成员 UltraFLEXplus,这也是PACE架构的首次应用。UltraFLEXplus解决了由于人工智能和5G通信基础设施变化所带来的新兴的数字测试需求。

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  UltraFLEXplus 闪亮登场

  测试特性分析需求和量产数据量的增加,逐渐挑战到当前测试机架构的极限,导致了开发周期的延长以及量产测试时间的增加。为了应对这一新兴挑战,泰瑞达为 UltraFLEXplus开发了PACE多控制器架构。这种革命性的技术,使测试工程师能够更高效地对复杂芯片进行调试和特性分析,实现更少的工作量和更高的测试机利用率,将新产品更快地推向市场。

  UltraFLEXplus将突破性的 PACE架构与业界领先的IG-XL软件相结合,确保半导体公司能够成功应对这些新的测试挑战。Teradyne的IG-XL软件不仅为客户提供了全面的开发环境,还利用了超过4,000台UltraFLEX测试机的装机量。这使得10,000名受过IG-XL培训的测试工程师能够开发出灵活的测试程序。

  “预计在2025年,SOC芯片的测试数据将会是2018年的8倍。无论是完全测试芯片所需的数据量,还是测试后的成品率和性能分析必须保留的测试结果的数量。”

  “为了将这些芯片推向市场并提供业界领先的测试经济,我们认为ATE架构体系的根本性改善是必须的。”


责任编辑:HanFeng

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