类别：工业控制

方案描述:

误码测试仪是检测通信系统可靠性的重要设备。传统的误码测试仪，基于CPLD和CPU协同工作，不仅结构复杂，价格昂贵，而且不方便携带。基于FPGA的告诉误码测试仪，采用FPGA来完成控制和测试模块的一体化设计，提高了系统功能扩展性和系统的集成度，使得各个功能模块在不改动硬件电路的情况下可以相应变化。在发送端发送M序列作为测试数据，其测试速度最高可达到155MB/S。由于将其物理层上的各种协议层得功能集中到FPGA内部实现，减少了硬件和软件的复杂度，并且缩短了系统的开发周期，具有可生气的特点。

方案设计图

方案关键器件表

XC6VCX75T-1FFG784C参数

工作温度 ：0°C ~ 85°C

家庭：嵌入式 - FPGA（现场可编程门阵列）

门数：-

电源电压：0.95 V ~ 1.05 V

安装类型 表面贴装

类别：集成电路 (IC)

产品变化通告：Virtex-6 FIFO Input Logic Reset 18/Apr/2011

供应商设备封装：784-FCBGA

LAB/CLB数：5820

系列：Virtex® 6 CXT

RoHS：无铅 / 符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求

封装/外壳：784-BBGA, FCBGA

产品培训模块：Virtex-6 FPGA Overview

RAM 位总计：5750784

标准包装 ：1

逻辑元件/单元数：74496

输入/输出数：360

XC6VCX75T-1FFG784C优点

优化的逻辑和 DSP 性能

利用2倍于上一代面向流水线设计的 Virtex FPGA 的触发器加强逻辑架构

更高的 DSP48E1 slice 比，支持高性能 DSP

更高的 block RAM 比实现了数据缓冲，并且满足 DSP 的要求

利用 3.75Gbps GTX 收发器实现的串行连接功能

低功耗：在 3.75 Gbps 下，功率低于 150mW（典型值）

单个 FPGA 内的 GTX 收发器多达16个

高度灵活的时钟控制技术实现了独立 Rx 和 Tx 操作，能够有效地将某些应用的收发器数量加倍

保证符合常见标准的要求，如 10/40/100G 以太网、PCI Express、OC-48、XAUI、SRIO 和 HD-SDI

集成式 PCI Express 模块和第三代三态以太网 MAC 模块可以轻松实现常见接口

利用面向 Virtex-6 FPGA 的连接功能套件加快开发步伐

XC6VCX75T-1FFG784I参数

系列：Virtex® 6 CXT

RoHS：无铅 / 符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求

封装/外壳：784-BBGA, FCBGA

产品培训模块：Virtex-6 FPGA Overview

LAB/CLB数：5820

RAM 位总计：5750784

逻辑元件/单元数：74496

输入/输出数：360

标准包装 ：1

家庭：嵌入式 - FPGA（现场可编程门阵列）

门数：-

电源电压 ：0.95 V ~ 1.05 V

安装类型：表面贴装

产品变化通告：Virtex-6 FIFO Input Logic Reset 18/Apr/2011

供应商设备封装：784-FCBGA

工作温度：-40°C ~ 100°C

类别：集成电路 (IC)

XC6VCX75T-1FFG784I优点

优化的逻辑和 DSP 性能

利用2倍于上一代面向流水线设计的 Virtex FPGA 的触发器加强逻辑架构

更高的 DSP48E1 slice 比，支持高性能 DSP

更高的 block RAM 比实现了数据缓冲，并且满足 DSP 的要求

利用 3.75Gbps GTX 收发器实现的串行连接功能

低功耗：在 3.75 Gbps 下，功率低于 150mW（典型值）

单个 FPGA 内的 GTX 收发器多达16个

高度灵活的时钟控制技术实现了独立 Rx 和 Tx 操作，能够有效地将某些应用的收发器数量加倍

保证符合常见标准的要求，如 10/40/100G 以太网、PCI Express、OC-48、XAUI、SRIO 和 HD-SDI

集成式 PCI Express 模块和第三代三态以太网 MAC 模块可以轻松实现常见接口

利用面向 Virtex-6 FPGA 的连接功能套件加快开发步伐